- Diese Veranstaltung hat bereits stattgefunden.
Werkstattgespräch bei Sennheiser
29. Juni 2022 um 14:30 - 17:00
Gemeinsam mit den Produktionsabteilungen namhafter Firmen erarbeiten wir innovative KI-Lösungen für unterschiedliche Automatisierungsebenen (z. B. Automatisierungspyramiden) als Demonstratoren. In unserer vierteiligen Reihe werden diese Demonstratoren in Werkstattgesprächen vorgestellt.
Das zweite Werkstattgespräch zu unserem Demonstrator Autonome Roboterzelle zur Leiterplattenendprüfung findet bei Sennheiser electronic GmbH & Co. KG als Live-Übertragung aus der Werkhalle am Standort Wedemark statt.
Freuen Sie sich auf die Vorstellung des Demonstrators bei Sennheiser und einen detaillierteren Einblick in die Arbeit mit der Roboterzelle.
Programm
14:30 – 14:40 Uhr
Begrüßung und Einführung
Rainer Wilkens, Sennheiser electronic GmbH & Co. KG
Per Schreiber, IIP-Ecosphere
14:40 – 14:55 Uhr
Vorstellung der Firma Sennheiser
Andreas Grüning, Sennheiser electronic GmbH & Co. KG
14:55 – 15:10 Uhr
Future Factory
Rainer Wilkens, Sennheiser electronic GmbH & Co. KG
Vorstellung des Industrie 4.0 Programms bei Sennheiser mit Präsentation bereits erfolgreich umgesetzter Digitalisierungslösungen. Die auf der Roadmap enthaltenen Themen spiegeln sich im IIP Ecosphere Projekt und finden dort ihre konsequente Umsetzung, was durch die Einführung in den Sennheiser Demonstrator verdeutlicht wird.
15:10 – 15:25 Uhr
Autonomes Rüsten
Jens Königsmann, Sennheiser electronic GmbH & Co. KG
Die autonome Prüfzelle stellt die Hardware- Basis für die Implementierung von KI-Methoden und einer Automatisierung eines Testprozesses bei Sennheiser dar. Die Prüfzelle wird in der Lage sein, automatisiert Tests von Leiterplatten durchzuführen. Leiterplatten, Produktträger, Transportkisten werden durch einen kollaborativen Roboter bewegt. An- und Abfuhr von Produkten und benötigten Werkzeugen sollen in einem weiteren Schritt über fahrerlose Transportsysteme (FTS) realisiert werden. Die Automatisierung wird in mehreren Teilschritten realisiert. Ebenso werden das Subteam intelligente Leiterplattenprüfung und die intelligente Muster- und Lageerkennung befähigt, ihre KI-Algorithmen am realen System zu realisieren und zu optimieren.
15:25 – 15:40 Uhr
Systemintegration
Malte Bonhage, Sennheiser electronic GmbH & Co. KG
Der gesamte Demonstrator sowie seine Einzelkomponenten werden mittels Digitaler Zwillinge abgebildet. Diese werden in Form von Verwaltungsschalen mit entsprechenden Submodellen realisiert. Neben bereits von der Plattform I4.0 standardisierten Submodellen kommen auch spezifische Submodell-Definitionen zum Einsatz. Darüber hinaus wird der Klassifikationsstandard ECLASS für die Merkmalsbeschreibung in der Verwaltungsschale verwendet. Der Prozess der Demonstratoranlage wird gesteuert durch eine übergeordnete Software (MORYX) zur Steuerung von Produktions- und Logistikprozessen, die mit den einzelnen Komponenten kommuniziert. Eine prozessbezogene Kommunikation zwischen einzelnen Komponenten findet nicht statt. Je nach Komponente wird die Kommunikation über OPCUA, MQTT oder TCP/IP-Socket-Befehle abgewickelt. Die KI ist als externer Service implementiert, der per REST-Schnittstelle angesprochen werden kann.
15:40 – 15:55 Uhr
Intelligente Muster- und Lageerkennung
Christian Just, Bitmotec GmbH
15:55 – 16:10 Uhr
Kaffeepause
16:10 Uhr – 16:30 Uhr
Intelligente Leiterplattenprüfung / Anwendersicht
Petra Hildebrandt, Sennheiser electronic GmbH & Co. KG
Das Subteam Intelligente Leiterplattenprüfung besteht aus internen Mitarbeiter*innen von Sennheiser und externen Firmen. Die internen Mitarbeiter*innen sind zum einen die späteren Anwender in der Produktion , als auch die Prüfplattformentwickler, die die KI-Lösungen in die existierende Infrastruktur am Arbeitsplatz integrieren. Aus dieser Anwendersicht ergeben sich die Fragestellungen, welche KI Anwendungen sinnvoll sind, wie sie sich in die bestehende Infrastruktur integrieren lassen und wie wir sicherstellen können, dass sie den erwarteten Nutzen bringen.
16:30 Uhr – 16:50 Uhr
Intelligente Leiterplattenprüfung / Data Scientist Sicht
Andrea Suckro, Slashwhy GmbH & Co. KG
Die veschiedenen Leiterplattentypen haben jeweils eine eigene Prüfsequenz mit unterschiedlen Testschritten, die durchlaufen werden. Pseudofehler sind bei pro Leiterplattentyp unterschiedlich häufig vertreten oder ausgeprägt – dadurch haben wir ein Model pro Leiterplatte nun im Betrieb. Durch die Datenlage kommen nur Modelklassen in Frage, die auch mit wenigen Beispielen gut lernen können. Wir prüfen dabei verschiedene Ensemble Methoden, SVMs und einfache Entscheidungsbäume um das beste Model für jede Leiterplatte zu finden. Alle Modelle lernen jedoch den gleichen Klassifizierungs-Task: Prüfdaten einer Leiterplatte -> LP defekt, Retest, Teststationsfehler?
16:50 Uhr – 17:00 Uhr
Q&A Session, Abschluss
17:00 Uhr
Zusammenfassung und Ausblick
Per Schreiber, IIP-Ecosphere
Vielen Dank für Ihre Teilnahme!